La machine émet une lumière comportant des raies spectrales caractéristiques de l’élément à mesurer, provenant de la source lumineuse. Lorsque cette lumière traverse la vapeur d’échantillon, elle est absorbée par les atomes à l’état fondamental de l’élément à mesurer présents dans la vapeur. La teneur de l’élément à mesurer dans l’échantillon est déterminée par le degré d’atténuation de la radiation correspondant à la raie spectrale caractéristique.
| Modèle | HD-U825 |
| Plage de longueurs d’onde | 190 nm - 900 nm |
| Précision des longueurs d’onde | ±0,2 nm |
| Répétabilité des longueurs d’onde | ±0,1 nm |
| Largeur de bande spectrale | 0,1 nm, 0,2 nm, 0,4 nm, 0,7 nm, 1,0 nm, 2,0 nm |
| Source lumineuse | Lampe élémentaire |
| Nombre de sources lumineuses | 6 supports de lampe/8 supports de lampe en option |
| Lignes du réseau | 1800 |
| Stabilité de la ligne de base : | Dérive statique de la ligne de base : ≤±0,002 A/30 min Dérive dynamique de la ligne de base : ≤±0,004 A/30 min |
Adresse : Chambre 101, Bâtiment 3, N°1, Route Dongwei 1ère, Rue Wanjiang, Dongguan, Guangdong.
Téléphone : +86 138 2726 8067
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