Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HD-E848

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Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HD-E848

Descrizione

Uno spettrometro XRF a dispersione di energia è uno strumento analitico estremamente versatile e indispensabile in vari campi. Identifica e quantifica con precisione la composizione elementare di materiali come le leghe, il che è di fondamentale importanza per il controllo della qualità nei processi produttivi. Grazie alle sue capacità di analisi elementare che coprono l’intervallo dal sodio (Na) all’uranio (U), offre un esame ad ampio spettro degli elementi. Lo spettrometro vanta inoltre una notevole sensibilità di rilevamento; per gli elementi pericolosi (specificamente limitati a Cd, Pb, Cr, Hg, Br e Cl) prescritti dalla direttiva RoHS, può raggiungere un limite di rilevamento fino a 1 ppm. Ciò lo rende estremamente efficace nel garantire la conformità alle normative ambientali e di sicurezza. Inoltre, è particolarmente adatto all’analisi dei componenti dei minerali, aiutando geologi e industrie minerarie a valutare con precisione la composizione dei minerali, aspetto cruciale per l’esplorazione e l’estrazione delle risorse. Nel complesso, le sue funzioni multifaccettate lo rendono un asset essenziale nella scienza dei materiali, nel monitoraggio ambientale, nella geologia e in altri ambiti correlati.

Modello HD-E848
Intervallo di analisi elementare Da Sodio (Na) a Uranio (U)
Intervallo di analisi del contenuto 1 ppm~99,991 TP3T
Stabilità operativa 0,11 TP3T dell'intensità totale di fluorescenza
Tempo di prova 100-300 secondi (regolabile)
Risoluzione energetica 129±5 elettronvolt
Intervallo di adattamento alla temperatura 15℃ a 30℃
Alimentazione elettrica AC: 220V±5V

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