

Flaş bellek çip akıllı test sistemi
1. Flaş bellek çip akıllı test sistemi HD-512-NAND, test planını özelleştirebilen ve çeşitli tip flaş bellek parçalarının paralel testlerini destekleyen kapsamlı bir flaş bellek test sistemidir. 64 tip, paralel testte en fazla flaş bellek parçası sayısı 512’ye ulaşabilir.
Flaş bellek çip akıllı test sistemi YC-512-NAND, çok sayıda test deseni ile özel test parametreleri fonksiyonlarını destekler; yüksek esneklik sayesinde tek tıklamayla temel ve yüksek düzeyde test süreçleri sunabilir. Sadece flaş bellek parçalarının kalan ömrünü değil, gerçek ölçümleri, veri tutma ve okuma girişimleri gibi fonksiyonel testleri de gerçekleştirerek kullanıcıların flaş bellek parçalarının güvenilirlik durumunu doğrulamasına yardımcı olur. Test tamamlandıktan sonra, test raporu tek tuşla kolayca ve hızlıca dışarı aktarılabilir; böylece müşterilere en sezgisel ve doğru grafiksel test verileri sağlanır. Flaş bellek parçalarının sınıf sınıflandırması ve uygulamaları için en sezgisel veri referansını sunar ve flaş bellek parçalarının kalite denetimi sonuçlarına dayalı akıllı sınıflandırmayı sağlar.
※ Test esasları JEDEC Standart No.218: Katı Hal Teknolojisi Derneği B-2016 Katı Hal Sürücü (SSD) Gereklilikleri ve Dayanıklılık Testi Yöntemine uygun olup;
※ Test esasları JEDEC Standard No.47 NVCE: Katı Hal Teknolojisi Derneği Entegre Devrelerin Stres Testine Dayalı Yeterlilik Standardına uygun olup;
※ Test kartının tasarım özellikleri endüstriyel sınıf test sıcaklığı ortamının gerekliliklerini karşılamaktadır;
| İç kutu boyutu | W760×D400×H890mm |
| Dış kutu boyutu | W1870×D890×H1830mm |
| volume | 270L |
| Açılma yöntemi | Tek kapaklı (sağdan açılır) |
| cooling method | air-cooled |
| ağırlık | Yaklaşık 950 KG |
| güç kaynağı | AC 380V Yaklaşık 7,5 KW |
| Ekran | Renkli LCD ekran |
| İşletim modu | Program mode, fixed value mode |
| Setting | Çince ve İngilizce menü (isteğe bağlı), dokunmatik ekran arayüzü |
| Ayar aralığı | Sıcaklık: Ekipmanın çalışma sıcaklık aralığına göre ayarlanır (üst sınır +5°C, alt sınır -5°C) |
| Ekran çözünürlüğü | Sıcaklık: 0,01°C Zaman: 0,01 dakika |
| kontrol yöntemi | BTC dengeli sıcaklık kontrol yöntemi + DCC (akıllı soğutma kontrolü) + DEC (akıllı elektrik kontrolü) (sıcaklık test ekipmanı)
BTHC dengeli sıcaklık ve nem kontrol yöntemi + DCC (akıllı soğutma kontrolü) + DEC (akıllı elektrik kontrolü) (sıcaklık ve nem test ekipmanı) |
| Eğri kaydı fonksiyonu | Pille korumalı RAM’e sahiptir; cihazın ayar değerlerini, örnekleme değerlerini ve örnekleme süresini kaydedebilir; maksimum kayıt süresi 350 gündür (örnekleme periyodu 1,5 dakika olduğunda). |
| Aksesuar fonksiyonu | Arıza alarmı ve nedeni ile işlem ipucu fonksiyonu Güç kesilmesi koruma fonksiyonu Üst ve alt limit sıcaklık koruma fonksiyonu Takvim zamanlama fonksiyonu (otomatik başlatma ve otomatik durdurma işlevi) Kendidiagnostik fonksiyon |
Adres: Guangdong Dongguan, Wanjiang Sokağı, Dongwei 1. Cadde No:1, Bina 3, Oda 101, Dongguan, Guangdong.
Telefon: +86 138 2726 8067
E-posta: haidaequipment@qc-test.com