Yüksek ve Düşük Sıcaklık Hızlandırılmış Yaşlanma Odası 512 Flaş Bellek Çip Akıllı Test Sistemi

  1. Ana Sayfa
  2. /
  3. Çip test cihazı
  4. /Yüksek ve Düşük Sıcaklık Hızlandırılmış Yaşlanma Odası 512 Flaş Bellek Çip Akıllı Test Sistemi

Yüksek ve Düşük Sıcaklık Hızlandırılmış Yaşlanma Odası 512 Flaş Bellek Çip Akıllı Test Sistemi

Flaş bellek çip akıllı test sistemi

Model:HD-512-NAND
Fiyat:FOB, CIF
Ödeme:L/C, D/P, T/T
Paket:Her set reçine elyafı ve PP film ile korunur, ardından çalışma kılavuzu ve video içeren güçlü ahşap kasaya yerleştirilir.
Teslimat:Siparişten sonra 15 gün.

512 Flaş Bellek Çip Akıllı Test Sistemi

Ürün Özellikleri

1. Flaş bellek çip akıllı test sistemi HD-512-NAND, test planını özelleştirebilen ve çeşitli tip flaş bellek parçalarının paralel testlerini destekleyen kapsamlı bir flaş bellek test sistemidir. 64 tip, paralel testte en fazla flaş bellek parçası sayısı 512’ye ulaşabilir.

Flaş bellek çip akıllı test sistemi YC-512-NAND, çok sayıda test deseni ile özel test parametreleri fonksiyonlarını destekler; yüksek esneklik sayesinde tek tıklamayla temel ve yüksek düzeyde test süreçleri sunabilir. Sadece flaş bellek parçalarının kalan ömrünü değil, gerçek ölçümleri, veri tutma ve okuma girişimleri gibi fonksiyonel testleri de gerçekleştirerek kullanıcıların flaş bellek parçalarının güvenilirlik durumunu doğrulamasına yardımcı olur. Test tamamlandıktan sonra, test raporu tek tuşla kolayca ve hızlıca dışarı aktarılabilir; böylece müşterilere en sezgisel ve doğru grafiksel test verileri sağlanır. Flaş bellek parçalarının sınıf sınıflandırması ve uygulamaları için en sezgisel veri referansını sunar ve flaş bellek parçalarının kalite denetimi sonuçlarına dayalı akıllı sınıflandırmayı sağlar.

※ Test esasları JEDEC Standart No.218: Katı Hal Teknolojisi Derneği B-2016 Katı Hal Sürücü (SSD) Gereklilikleri ve Dayanıklılık Testi Yöntemine uygun olup;

※ Test esasları JEDEC Standard No.47 NVCE: Katı Hal Teknolojisi Derneği Entegre Devrelerin Stres Testine Dayalı Yeterlilik Standardına uygun olup;

※ Test kartının tasarım özellikleri endüstriyel sınıf test sıcaklığı ortamının gerekliliklerini karşılamaktadır;

Information

İç kutu boyutu W760×D400×H890mm
Dış kutu boyutu W1870×D890×H1830mm
volume 270L
Açılma yöntemi Tek kapaklı (sağdan açılır)
cooling method air-cooled
ağırlık Yaklaşık 950 KG
güç kaynağı AC 380V Yaklaşık 7,5 KW

Kontrol Sistemi

Ekran Renkli LCD ekran
İşletim modu Program mode, fixed value mode
Setting Çince ve İngilizce menü (isteğe bağlı), dokunmatik ekran arayüzü
Ayar aralığı Sıcaklık: Ekipmanın çalışma sıcaklık aralığına göre ayarlanır (üst sınır +5°C, alt sınır -5°C)
Ekran çözünürlüğü Sıcaklık: 0,01°C
Zaman: 0,01 dakika
kontrol yöntemi BTC dengeli sıcaklık kontrol yöntemi + DCC (akıllı soğutma kontrolü) + DEC (akıllı elektrik kontrolü) (sıcaklık test ekipmanı)

BTHC dengeli sıcaklık ve nem kontrol yöntemi + DCC (akıllı soğutma kontrolü) + DEC (akıllı elektrik kontrolü) (sıcaklık ve nem test ekipmanı)

Eğri kaydı fonksiyonu Pille korumalı RAM’e sahiptir; cihazın ayar değerlerini, örnekleme değerlerini ve örnekleme süresini kaydedebilir; maksimum kayıt süresi 350 gündür (örnekleme periyodu 1,5 dakika olduğunda).
Aksesuar fonksiyonu Arıza alarmı ve nedeni ile işlem ipucu fonksiyonu
Güç kesilmesi koruma fonksiyonu
Üst ve alt limit sıcaklık koruma fonksiyonu
Takvim zamanlama fonksiyonu (otomatik başlatma ve otomatik durdurma işlevi)
Kendidiagnostik fonksiyon

Whatsapp