SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces

Catégorie Testeur de puces

Système intelligent de test pour disques à état solide

Modèle :HD-72-NVME

Prix :FOB, CIF

Paiement :L/C, D/P, T/T

Emballage :Chaque ensemble est protégé par une fibre résineuse et un film PP, puis placé dans un coffre en bois robuste contenant le manuel d’utilisation et une vidéo à l’intérieur.

Livraison :15 jours après la commande.

Caractéristique

Support the customization of the number of SATA mass production test pieces, such as 30 pieces, 36 pieces, 42 pieces, 48 pieces, 54 pieces, 72 pieces, 100 pieces, 160 pieces, 200 pieces, etc.;
Support research and development of micro-miniature customization, such as 6 pieces, 12 pieces, etc.;
Support (-70°~+ 180°) test;
Support abnormal power failure test and aging test;
Support automatic temperature control test;
Support all software for intelligent control testing;
Prise en charge de la personnalisation du logiciel de test ;
Support the balance of air speed and temperature in the box;
Prise en charge du contrôle rapide du chauffage et du refroidissement
Support customized research and development of PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash aging;
Support network control, you can control the test in different places and view the test results;
Support APP remote control testing;

Information

Modèle	HD-72-SATA
Dimensions de la boîte intérieure	W500×D400×H1020mm
Dimensions de la boîte extérieure	About W1250×D1350×H1910mm
volume	204L
Méthode d’ouverture	Single door (right open)
cooling method	air-cooled
poids	About 930KG
Alimentation électrique	AC 220V About 12KW

Temperature parameter

plage de température	-70℃~150℃
Fluctuation de température	≤±0,5℃ ≤±1℃
temperature offset	≤±2℃
temperature resolution	0,01 °C
Vitesse de chauffage	5℃/min(mechanical cooling, under standard load)
temperature change rate	High temperature can meet 5℃~8℃/min nonlinear adjustable (measured at the air outlet, mechanical refrigeration, under standard load), low temperature can meet 0℃~2℃/min nonlinear Adjustable (measured at the air outlet, mechanical cooling, under normal load)
temperature uniformity	≤±2℃
standard load	10KG aluminum block, 500W load;

Test standard

GB/T5170.2-2008 Temperature test equipment

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1:2007) low temperature test method AB.

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) high temperature test method BA.

GJBl50.3 (MIL-STD-810D) high temperature test method.

GJBl50.4 (MIL-STD-810D) low temperature test method.

SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces