SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces

Категория Тестер микросхем

Интеллектуальная система тестирования твердотельных накопителей

Модель:HD-72-NVME

Цена:FOB, CIF

Оплата:L/C, D/P, T/T

Упаковка:Каждый комплект защищён смоляным волокном и полипропиленовой плёнкой, затем упакован в прочный деревянный ящик с инструкцией по эксплуатации и видеороликом внутри.

Доставка:15 дней после оформления заказа.

Особенности

Support the customization of the number of SATA mass production test pieces, such as 30 pieces, 36 pieces, 42 pieces, 48 pieces, 54 pieces, 72 pieces, 100 pieces, 160 pieces, 200 pieces, etc.;
Support research and development of micro-miniature customization, such as 6 pieces, 12 pieces, etc.;
Support (-70°~+ 180°) test;
Support abnormal power failure test and aging test;
Support automatic temperature control test;
Support all software for intelligent control testing;
Поддержка настройки программного обеспечения для тестирования;
Support the balance of air speed and temperature in the box;
Поддержка быстрого управления нагревом и охлаждением;
Support customized research and development of PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash aging;
Support network control, you can control the test in different places and view the test results;
Support APP remote control testing;

Information

Модель	HD-72-SATA
Размер внутренней коробки	W500×D400×H1020mm
Размер внешней коробки	About W1250×D1350×H1910mm
volume	204L
Способ открытия	Single door (right open)
cooling method	air-cooled
вес	About 930KG
Источник питания	AC 220V About 12KW

Temperature parameter

Диапазон температур	-70℃~150℃
Колебания температуры	≤±0,5℃ ≤±1℃
temperature offset	≤±2℃
temperature resolution	0,01℃
Скорость нагрева	5℃/min(mechanical cooling, under standard load)
temperature change rate	High temperature can meet 5℃~8℃/min nonlinear adjustable (measured at the air outlet, mechanical refrigeration, under standard load), low temperature can meet 0℃~2℃/min nonlinear Adjustable (measured at the air outlet, mechanical cooling, under normal load)
temperature uniformity	≤±2℃
standard load	10KG aluminum block, 500W load;

Test standard

GB/T5170.2-2008 Temperature test equipment

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1:2007) low temperature test method AB.

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) high temperature test method BA.

GJBl50.3 (MIL-STD-810D) high temperature test method.

GJBl50.4 (MIL-STD-810D) low temperature test method.

SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces